测量原理:通过色散选频光学系统建立聚焦距离与波长之间的对应关系,再利用光谱分析系统解码对应的光谱信息,从而获得相应的位置信息。
技术指标:
可测膜厚:≥100μm
测量精度:0.3μm
应用领域:手机芯片、玻璃镜头、晶圆/半导体、太阳能电池板等各领域薄膜及胶水厚度的检测。
技术亮点:高分辨率、高精度、高速在线测量。具有超强的抗干扰能力,对于各类表面状态的目标物,均可实现稳定测量,并且可同时测量并输出位移和厚度。