双元科技 |
参考报价:电议 型号:晶圆全自动AOI瑕疵检测系统
产地:浙江 在线咨询
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产品功能:可实现晶圆表面亚微米量级全类型缺陷检测。主要检测晶圆表面的颗粒,脏污,针痕,划痕,裂痕,残胶,图形缺失,图形黏连,尺寸测量等。
技术指标:
测量精度:0.5μm
晶圆尺寸:支持4、6、8、12英寸
技术亮点:“传统+AI智能检测算法”,实现缺陷的高速、精准检测及识别分类。主相机采用**定制研发的低噪声高性能黑白图像传感器,配备2X、5X、10X显微物镜,Color Review高清彩色相机。同时支持明暗场双光路检测。