GCMD-3584超硬材料堆积密度测定仪

标  准：

JB/T3584-1999《超硬磨料堆积密度测定方法》

美国国家标准 ANSI B74.17-1976《金刚石磨粒堆积密度的检验方法》。

用  途：

适用于检测超硬磨料16/20~325/400的人造金刚石和立方氮化硼的堆积密度测定。，也适用于检测其他类似颗粒状材料的堆积密度。本标准规定了超硬磨料堆积密度测定仪器和测量方法。

工作原理：

将待测的超硬材料磨粒装入漏斗，迅速打开橡皮球，磨粒顺着漏斗的下端口自然下落流入到测量筒中，将流入到测量筒中的磨粒刮平，在天平上称取刮平后测量筒中的磨粒质量，再除以测量筒的容积，就可以测出待测磨粒的堆积密度。

 主要技术参数:

漏斗材质:黄铜

漏斗顶部内径:57.1mm±0.01mm

锥度高度:41.3mm

漏斗角度:63°±10°  内径:6.4mm±0.03mm 长度:6.4mm±0.03mm

漏斗锁闭装置:用一个直径19mm的橡皮球,用两根弹簧固定在漏斗下颈的出口

测量筒:材质黄铜 内经19.3mm±0.01mm 容计:10ml±0.2cm3

金属附件是构成复合绝缘子的一种器件，它与支持结构物、导线、设备的部分或另一•只绝缘子相连接。芯棒和金属附件之间传递负荷的区段。联接是金属附件一部分，通过这个部分可以将负荷由外部附件传递到复合绝缘子上。起痕是由于在绝缘材料的表面上形成通道并且发展而形成的一种不可逆的劣化现象，这种通道甚至在干燥的条件下也是导电的。起痕可以产生在与空气相接触的表面上，也可产生在不同绝缘材料之间的界面上。树枝状通道是由材料内部形成的微细通道。

是一种不可逆的劣化现象，这种通道可能导电也可能不导电，这些微通道能够在整个材料上逐渐延伸直至产生电气破坏。蚀损是在绝缘子表面上出现了材料的损失，是一种不可逆的和不导电的劣化现象。这种蚀损可能是均匀的、局部的或者是树枝状的。复合绝缘子如同瓷绝缘子一样，在局部闪络后通常会出现“樹枝状的很浅的表面痕迹*这种痕迹只要是不导电就无妨碍，当它是导电时就应属于起痕。粉化是伞套材料填充物的某些颗粒形成粗糙或粉状表面的现象。裂纹是指深约0.01mm〜0.1mm的表面微小裂缝。深度超过0.1mm的任何表面裂缝。由液态或气态形式的水渗透而产生的水解现象，它可能在复合绝缘子材料内部发生，可导致电气上和（或）机械上的劣化。

额定机械负荷是在本标准的机械试验中要用到的由制造厂规定的一种负荷。逐个试验负荷是在逐个机械试验（见8.3）期间对所有装配好的复合绝缘子要施加的负荷。设计试验旨在验证设计、材料和制造方法（工艺）是否合适。当一种复合绝缘子进行设计试验时，其结果应认为对整类复合绝缘子都有效，该类绝缘子由被试的该种绝缘子所代表，——芯棒、伞套材料相同，并且制造方法（工艺）相同；——相同的附件材料、相同的设计和相同的附着方法；——*芯棒上的伞套材料层厚度（包括所采用的伞套）相同或较大；—*高系统电压与绝缘子长度之比相同或较小；一*所有机械负荷与两附件间芯棒小直径之比相同或较小；——*芯棒直径相同或较大。被测试的复合绝缘子应按图纸上标有制造公差的所有尺寸进行检査。