飞纳 |
参考报价:电议 型号:Phenom Pro
产地:荷兰 在线咨询
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飞纳台式扫描电镜高分辨率专业版 Phenom Pro 是飞纳电镜系列中***的产品,第五代 Phenom Pro 放大倍数提升为 350,000 倍,分辨率优于 6 nm,30 秒快速得到表面细节丰富的高质量图像,是目前世界上分辨率**的台式扫描电镜,可用于测量亚微米或纳米尺度的样品;飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 继承了飞纳电镜系列高分辨率、15 秒快速抽真空、不喷金观看绝缘体、全自动操作、2-3 年更换灯丝及防震设计等优点。
飞纳高分辨率专业版 Phenom Pro 可选配丰富的拓展功能选件,如 3D 粗糙度重建(3D Roughness Reconstruction)、纤维统计分析测量系统(FiberMetric)、孔径统计分析测量系统(PoreMetric)、颗粒统计分析测量系统(ParticleMetric)、超大视野拼图(Auto Image Mapping)、远程操作等。软件可以自动采集数据、处理图片。比如,纤维统计测量系统可以自动识别、测量纤维样品,而大视野拼图 则自动采集生成高分辨、大视野的样品全景照片,等等…
除此之外,还有各种各样的样品杯可供选择,这些样品杯使得样品的装载更加便利。无论是对于长轴状样品,还是生物材料,或者其它种类的材料,总有一款合适的样品杯可以提供**的解决方案。
Phenom Pro 主要技术参数
光学放大 | 20 - 135 X |
电子放大 | ** 350,000 X |
分辨率 | 优于 6 nm |
数字放大 | Max. 12 X |
光学导航相机 | 彩色 |
加速电压 | 5 kV - 15 kV 连续可调 |
真空模式 | 标准模式 降低荷电效应模式 |
探测器 | 背散射电子探测器 |
样品尺寸 | **直径 32 mm |
样品高度 | ** 100 mm |
颗粒统计分析测量系统
颗粒统计分析测量系统软件可以轻松获取、分析图片,并生成报告。借助该软件,用户可以收集到大量亚微米颗粒的形貌和粒径数据。凭借远超光镜的放大倍数,颗粒软件全自动化的测量,可以把工业粉末的设计、研发和品管提升到一个新台阶。
借助颗粒系统软件,用户可随时获得数据。因此,它加快了分析速度,并提高了产品质量。
台式扫描电镜在粉末冶金领域的应用
1. 粉体形貌、粒度观察(<10000×,低压 SED)
2. 粉体粒度统计(使用飞纳电镜软件-颗粒统计分析测量系统)
3. 烧结件缺陷检查(使用飞纳电镜软件-超大视野自动全景拼图)
4. 成品表面质量检查+杂质判定(扫描电镜+能谱)
5. 脱脂前后形貌观察
低倍下的二次电子形貌可以看到:金属粉末呈现出大大小小的粒度差异,可以通过自带的测量工具进行测量
130 X
255 X
金属粉体粒度统计功能
涂彩色的颗粒表示被选中并识别的颗粒
颗粒粒径分布柱状图
颗粒粒径和圆度的关系散点图
颗粒粒形分析界面
复纳科学仪器 (上海) 有限公司 (Phenom-China),负责 Phenom-World 飞纳台式扫描电镜在中国市场的推广和销售,提供专业的技术支持和测试服务,飞纳中国拥有*专业的服务团队,提供**化的解决方案;飞纳中国提出飞纳学校 (Phenom University)的概念,为用户提供从扫描电镜基础理论到 Level 5 应用工程师的进阶培训,在上海、北京、广州设立了测试中心和售后服务中心,目前飞纳在中国已经拥有接近 1000 名用户。