大塚电子(苏州)有限公司
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分光干渉式晶圆膜厚仪 SF-3
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型号:SF-3
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超高速分光干渉式膜厚仪
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型号:
产地:江苏
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非接触式光学膜厚仪
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产地:江苏
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嵌入式膜厚仪FE-5000
参考报价:电议
型号:FE-5000
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膜厚测量用多通道光谱仪MCPD系列
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型号:MCPD系列
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膜厚量测仪 FE-300
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型号:FE-300
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显微分光膜厚仪OPTM series
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型号:OPTM series
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多通道分光光谱仪 MCPD-9800 6800
参考报价:电议
型号:MCPD-9800 6800
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多检体纳米粒径量测系统nanoSAQLa
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型号:nanoSAQLa
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界达电位ELSZ
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型号:ELSZ
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