采用适应CCD采集的C-T光学系统，平场采样，全谱接收
独立的光谱采集、处理模块，高性能的ARM处理器，实时操作系统，独立优化的数据处理单元，可极大缩短分析时间，提高仪器的分析精度；
▲曲率半径
       450mm
▲IV型全息像差校正原刻光栅
      刻线3600线/nm
▲波长范围
     130-800nm
▲检测基体
      铁、铜、铝、镍、锌、锡、钛、镁等基体