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日本电子JED能谱元素分析系统 AZtecTEM
参考报价:面议
型号:AZtecTEM
产地:英国
产品详情

在搭载有JED能谱仪的日本电子200kV及300kV透射电镜系统上可配备牛津仪器软件系统AZtec TEM,使得该类用户可以使用功能强大的牛津仪器显微分析软件进行数据的采集与分析。可实现的功能包括:

  • 常规定性定量分析 Analyzer/Point ID;

  • 元素线扫描及面扫描 LineScan/Mapping;

  • 漂移校正功能(主动及被动) - 在分析纳米级和原子级结构时至关重要 Autolock;

  • 真实元素分布:实时更正重叠峰和其他假象,然后自动将真实数据可视化      TruMap;

  • 元素定量分布:元素含量的二维分布 QuantMap;

实时元素分布:实现元素分布的动态观察 AZtecLive;


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