第四代透过法粒度测定仪，是测量金属、非金属及其化合物粉末的比表面积和粒度的装置。可广泛应用于粉末冶金、精细化工、硅酸盐工业、制药及表面技术的各种粉末和比表面积的测定。

　　本仪器结构简单，操作方便，仪器有快速计算板，不需要复杂的计算，测定一次只需3-5分钟。本仪器运用的测定方法GB/T11107和ISO10070