宁波瑞柯伟业仪器有限公司
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    四探针薄膜方阻测试仪

    采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.

    规格型号/ model

    FT-341

    FT-342

    FT-343

    FT-345

    FT-346

    FT-347

    1.方块电阻sheet resistance

    10-52×105Ω/□

    10-42×105Ω/□

    10-32×105Ω/□

    10-32×104Ω /□

    10-22×105Ω/□

    10-22×104Ω/□

    2.电阻率Resistivity

    10-62×106Ω-cm

    10-52×106Ω-cm

    10-42×106Ω-cm

    10-42×105Ω-cm

    10-32×106Ω-cm

    10-32×106Ω-cm

    3.测试电流Test current

    0.1μA.μA.0μA100µA1mA10mA100mA

    1μA10μA100µA1mA10mA100mA

    0.1μA.μA10μA100µA1mA10mA100 mA

    1μA10μA100µA1mA10mA100mA

    0.1μA1μA10μA100µA1mA10mA100mA

    1μA10μA100µA1mA10mA100mA

    硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻  半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率  导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择,