我公司技术专家应邀为粉体工业通鉴撰稿

由于我公司生产的JW系列比表面积和孔径分布测试仪器在国内市场上的影响力和所做出的巨大贡献，日前《中国粉体工业通鉴》编委会郑重要求我公司创始人钟家湘教授为通鉴撰写有关粉体材料比表面积和孔径分布测试方面的技术专稿，详细介绍粉体材料这项重要性能的测试方法、技术和相关设备，以促进我国粉体工业的发展。 随着科学技术的发展，特别是近年来纳米技术的突飞猛进，粉体材料的制备工艺越来越先进，纳米和亚微米级粉体材料的应用越来越普及。随着颗粒尺度的变小，比表面积和孔径分布成为了粉体材料一项不亚于粒径的重要物性指标。我公司首席技术专家，北京理工大学知名材料专家钟家湘教授，多年来致力于材料研究，所从事的研究领域涉及到从早期的金属材料到最新的纳米材料。得益于多年材料研究经验和对材料性能测试的深刻认识，独立研究开发的粉体材料比表面积和孔径分布JW系列测试仪，由于紧密结合了实际应用需求，深受广大科研单位和生产企业欢迎的国产品牌。 文章详细介绍了粉体材料比表面积和孔径分布测定的技术和发展方向，不同测试方法间的比较，国内外测试仪器性能比较等内容，为行业用户了解材料的这项性能提供了很好的参考，得到了编委会的高度评价和认可。更多详细情况请参阅《中国粉体工业通鉴》2006版，题为：我国粉体材料的测试技术与测试仪器新进展。